A.環(huán)境
B.目的
C.方法
D.過程特點(diǎn)
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A.選擇試驗
B.帥選試驗
C.環(huán)境試驗
D.壽命試驗
E.隨機(jī)試驗
A.最大割集法
B.最小割集法
C.系統(tǒng)薄弱環(huán)節(jié)分析
D.系統(tǒng)強(qiáng)勢環(huán)節(jié)分析
E.系統(tǒng)割集法
A.列表開始
B.逐級置換
C.列表方法
D.化簡
E.列表結(jié)束
A.上行法
B.分析法
C.誤差法
D.下行法
E.失效法
A.定性
B.定速
C.定量
D.等誤差
E.定位
最新試題
一個機(jī)械電子系統(tǒng)包括一部雷達(dá),一臺計算機(jī),一個輔助設(shè)備,其壽命都服從指數(shù)分布。其MTBF分別為100小時,200小時和100小時,則系統(tǒng)的MTBF為()
采用加速壽命試驗應(yīng)注意:()和()
什么是基本可靠性模型?什么是任務(wù)可靠性模型?
應(yīng)力分析法適用于電子產(chǎn)品設(shè)計開發(fā)的()
對產(chǎn)品應(yīng)用抽樣方法檢驗時,母體的合格率不達(dá)標(biāo),子樣的合格率就必定不達(dá)標(biāo)
已知某系統(tǒng)故障的故障樹如下圖所示,其元件MTBF均為2000小時,服從指數(shù)分布。1)求出最小割集;2)預(yù)計該系統(tǒng)工作100小時的可靠度。
某系統(tǒng)由三個電容器并聯(lián)而成,假定選定失效模式是電容短路,則系統(tǒng)的可靠性邏輯圖是串聯(lián)的。
故障樹分析是用一系列()和轉(zhuǎn)移符號描述系統(tǒng)中各種事件之間的因果關(guān)系中各種事件之間的因果關(guān)系的。
設(shè)有一可修復(fù)的電子產(chǎn)品工作10000h,累計發(fā)生4次故障,則該產(chǎn)品的MTBF約為()
已知一元件壽命服從指數(shù)分布,平均壽命θ為100h,則其工作1小時可靠性是其工作100小時可靠性的多少倍()