A.試驗條件
B.試驗時間
C.樣品抽取
D.故障判別原則
E.試驗數(shù)據(jù)處理
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A.工藝試驗
B.工程試驗
C.統(tǒng)計試驗
D.可靠試驗
E.隨機試驗
A.不完整試驗
B.完整試驗
C.截尾試驗
D.終止試驗
E.開始試驗
A.對于研制中的產(chǎn)品使達(dá)到規(guī)定的可靠性指標(biāo)
B.對于研制定型產(chǎn)品進行可靠性鑒定
C.對于生產(chǎn)過程中的產(chǎn)品進行質(zhì)量控制
D.對加工出的批量產(chǎn)品進行帥選把關(guān)
E.對于產(chǎn)品出場時的規(guī)格進行鑒定
A.可靠性增長試驗的適用范圍
B.可靠性增長試驗對受試產(chǎn)品的要求
C.可靠性增長試驗的選擇
D.可靠性增長試驗與可靠性增長試驗與可靠性鑒定試驗的關(guān)系
E.可靠性增長試驗的隨機性
A.加速應(yīng)力的選擇
B.加速應(yīng)力水平和數(shù)目的選定
C.試驗樣品的數(shù)目和選取
D.試驗周期的確定
E.加速周期的選擇
最新試題
采用加速壽命試驗應(yīng)注意：（）和（）
簡要說明老練與篩選的目的以及二者的異同。
應(yīng)力分析法適用于電子產(chǎn)品設(shè)計開發(fā)的（）
一個機械電子系統(tǒng)包括一部雷達(dá)，一臺計算機，一個輔助設(shè)備，其壽命都服從指數(shù)分布。其MTBF分別為100小時，200小時和100小時，則系統(tǒng)的MTBF為（）
已知某系統(tǒng)故障的故障樹如下圖所示，其元件MTBF均為2000小時，服從指數(shù)分布。1）求出最小割集；2）預(yù)計該系統(tǒng)工作100小時的可靠度。
可靠性試驗可以分為工程試驗和（）
四個壽命分布為指數(shù)分布的獨立單元構(gòu)成一個串聯(lián)系統(tǒng)，每個單元的MTBF分別為：300、500、250和150小時。若要求新系統(tǒng)的MTBF為10小時，試按比例將MTBF分至各單元，并計算新系統(tǒng)各單元工作10小時時的系統(tǒng)可靠度。
在可靠性試驗中，老煉的目的在于消除產(chǎn)品參數(shù)漂移，而篩選的目的在于剔除早期失效產(chǎn)品。
采用儲備模型可以提高產(chǎn)品的任務(wù)可靠性，但會降低其基本可靠性
下列關(guān)于可維護性的陳述當(dāng)中哪一個是真實的（）