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試論述可靠度含義，請(qǐng)解釋一下基本可靠性和任務(wù)可靠性。
為了驗(yàn)證開(kāi)發(fā)的產(chǎn)品的可靠性是否與規(guī)定的可靠性要求一致，用具有代表性的產(chǎn)品在規(guī)定的條件下所做的試驗(yàn)叫（）試驗(yàn)。
某系統(tǒng)由三個(gè)電容器并聯(lián)而成，假定選定失效模式是電容短路，則系統(tǒng)的可靠性邏輯圖是串聯(lián)的。
四個(gè)壽命分布為指數(shù)分布的獨(dú)立單元構(gòu)成一個(gè)串聯(lián)系統(tǒng)，每個(gè)單元的MTBF分別為：300、500、250和150小時(shí)。若要求新系統(tǒng)的MTBF為10小時(shí)，試按比例將MTBF分至各單元，并計(jì)算新系統(tǒng)各單元工作10小時(shí)時(shí)的系統(tǒng)可靠度。
應(yīng)力分析法適用于電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)的（）
已知某系統(tǒng)故障的故障樹(shù)如下圖所示，其元件MTBF均為2000小時(shí)，服從指數(shù)分布。1）求出最小割集；2）預(yù)計(jì)該系統(tǒng)工作100小時(shí)的可靠度。
系統(tǒng)可靠性框圖如下所示：要求：1）畫出相應(yīng)的故障樹(shù)，寫出最小割集表達(dá)式；2）計(jì)算各底事件的結(jié)構(gòu)重要度并給出分析結(jié)論。
在可靠性試驗(yàn)中，老煉的目的在于消除產(chǎn)品參數(shù)漂移，而篩選的目的在于剔除早期失效產(chǎn)品。
圖（a）、（b）兩部分是等價(jià)的嗎？當(dāng)表決器可靠度為1，組成單元的故障率均為常值λ時(shí)，請(qǐng)推導(dǎo)出三中取二系統(tǒng)的可靠度和MTBCF表達(dá)式。
用上行法和下行法求最小割集時(shí)，可能得到不同的最小割集。