問(wèn)答題金屬電阻應(yīng)變片與半導(dǎo)體應(yīng)變片的區(qū)別有哪些？
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1.問(wèn)答題應(yīng)變片有哪幾部分組成？各有何用？
2.單項(xiàng)選擇題壓電元件并聯(lián)連接時(shí)，（）。
A.輸出電荷小
B.輸出電壓大
C.輸出電壓小
D.輸出電荷大
3.單項(xiàng)選擇題壓電式傳感器使用（）放大器時(shí)，輸出電壓幾乎不受聯(lián)接電纜長(zhǎng)度變化的影響。
A.電荷放大器
B.調(diào)制放大器
C.電壓放大器
4.單項(xiàng)選擇題在塵埃、油污、溫度變化較大伴有振動(dòng)等干擾的惡劣環(huán)境下測(cè)量時(shí)，傳感器的選用必須首先考慮（）因素。
A.響應(yīng)特性
B.靈敏度
C.穩(wěn)定性
D.精確度
5.單項(xiàng)選擇題壓電式傳感器使用的前置放大器的輸入阻抗（）。
A.很低
B.較低
C.較高
D.很高
最新試題
LabVIEW的（）模板主要為前面板提供所需的輸出顯示對(duì)象和輸入控制對(duì)象。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
應(yīng)變片的核心部分是（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
IEEE488總線(xiàn)也稱(chēng)為（）總線(xiàn)。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
故障隔離時(shí)間是指從開(kāi)始隔離故障到指出有故障的（）所經(jīng)歷的時(shí)間。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
在測(cè)試程序設(shè)計(jì)完成后，要進(jìn)行程序優(yōu)化，主要是完成（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
目前大多數(shù)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)采用的，通過(guò)總線(xiàn)連接外接儀器的測(cè)試系統(tǒng)形式是（）型。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
多路被測(cè)信號(hào)嚴(yán)格要求同步采集的測(cè)試系統(tǒng)應(yīng)該采用（）測(cè)試系統(tǒng)。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
VXI總線(xiàn)具有（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
能夠反應(yīng)驅(qū)動(dòng)外設(shè)能力的指標(biāo)是總線(xiàn)的（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
VXI總線(xiàn)的連接器主要有（）種類(lèi)型。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題