單項(xiàng)選擇題儀器的垂直線性好壞會(huì)影響()。

A.缺陷的當(dāng)量比較
B.AVG曲線面板的使用
C.缺陷的定位
D.以上都對(duì)


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1.單項(xiàng)選擇題超聲波探傷儀水平線性的好壞直接會(huì)影響()。

A. 缺陷性質(zhì)判斷
B. 缺陷大小判斷
C. 缺陷的定位
D. 以上都是

2.單項(xiàng)選擇題CSK-ⅠA試塊的的R50、R100圓弧面,可用來測定()。

A. 直探頭的的遠(yuǎn)場分辨力
B. 斜探頭的K值
C. 斜探頭的入射點(diǎn)
D. 斜探頭的聲束偏斜角

3.單項(xiàng)選擇題下列哪組是焊接接頭標(biāo)準(zhǔn)試塊()。  

A. CSⅠ 、 CBⅠ
B. CSK-ⅢA 、CSK-ⅠA
C. CSⅢ 、CSK-ⅠA
D. RB-Ⅰ 、CSⅡ

4.單項(xiàng)選擇題以下哪一條,不屬于雙晶探頭的性能指標(biāo)()。

A.工作頻率
B.晶片尺寸
C.探測深度
D.近場長度

5.單項(xiàng)選擇題探頭上2.5P13×13K2中“2”的含義是()。

A. 探頭的工作頻率為2MHz
B. 探頭的K值為2
C. 探頭的種類為2
D. 以上都不是

最新試題

檢測板厚T = 24mm 的鋼板對(duì)接焊接接頭,上焊縫寬34mm , 下焊縫寬26mm ,選用K2 探頭,前沿距離l0 = 16mm ,用一、二次波能掃查到整個(gè)焊縫截面?

題型:問答題

用CSK-IA 試塊測定斜探頭和儀器的分辨力,現(xiàn)測得臺(tái)階孔Ф50、Ф44 反射波等高時(shí)波峰高h(yuǎn)1=80% ,h2=25% ,求分辨力為多少?   

題型:問答題

用2.5MHz、Φ20mm直探頭探測厚為200mm的餅形鍛件,已知底波B1=80%,B2=35%,若不計(jì)底面反射損失,求該鍛件的材質(zhì)衰減系數(shù)為多少? 

題型:問答題

用2.5P14Z探頭檢測某鍛件,發(fā)現(xiàn)在50mm深處有一缺陷引起的底波降低量為18dB,另一處密集區(qū)缺陷面積為 100cm2,檢測總面積為0.5米×0.5米,同時(shí)發(fā)現(xiàn)一單個(gè)缺陷,當(dāng)量為Φ4+10dB,試根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)評(píng)定此鍛件等級(jí)。

題型:問答題

模擬式超聲波探傷儀用K1.0斜探頭,對(duì)準(zhǔn)CSK-ⅠA試塊R50和R100圓弧,顯示屏上R50和R100圓弧回波分別對(duì)準(zhǔn)刻度35.4和70.8 。求按橫波深度調(diào)節(jié)其掃描速度為多少?   

題型:問答題

用5P10×12K2探頭檢測板厚T = 24mm 鋼板對(duì)接焊縫,掃描線按深度2:1調(diào)節(jié),檢測 時(shí)在水平刻度τf= 60處發(fā)現(xiàn)一缺陷波,計(jì)算此缺陷深度和水平距離?

題型:問答題

用2.5P14Z探頭探測某鍛件,發(fā)現(xiàn)在100mm深處有一個(gè)Φ6當(dāng)量平底孔缺陷,根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)評(píng)幾級(jí)?

題型:問答題

用2.5P20Z探頭檢測厚400mm的鋼鍛件,鋼中CL=5900m/s , 衰減系數(shù)α2= 0.01dB/mm , (1)如用試塊(衰減可忽略)上的深200mm ,Ф4mm的平底孔校準(zhǔn)400mm處檢測靈敏度(400/Ф2),兩者的波高差為多少?   (2)如果用厚度為200mm的試塊(鍛件與試塊衰減系數(shù)相同,耦合差為5dB)底波調(diào)節(jié)檢測靈敏度(400/Ф2),兩者反射波高差為多少?

題型:問答題

面積為1×1m2的鋼板超聲檢測,發(fā)現(xiàn)有以下缺陷:指示長度為90mm面積80cm2的缺陷4個(gè), 指示長度為75mm,面積50cm2的缺陷3個(gè);指示長度為50mm 面積12cm2的缺陷5個(gè);各缺陷間距均大于100mm,試根JB/T4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)判別鋼板等級(jí)。   

題型:問答題

用5P10×12K2.5探頭,檢測板厚T = 20 mm 的鋼對(duì)接焊接接頭,掃描時(shí)基線按水平1:1調(diào)節(jié),檢測時(shí),水平刻度40和70mm處各發(fā)現(xiàn)缺陷波一個(gè),試分別求這兩個(gè)缺陷的深度?

題型:問答題