A. 校準后的探頭、耦合劑和儀器調(diào)節(jié)旋鈕發(fā)生改變時
B. 檢測人員懷疑掃描量程或掃查靈敏度有變化時
C. 連續(xù)工作4h以上或工作結(jié)束時
D. 以上都對
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A. 水平線性≤2%
B. 垂直線性≤4%
C. 直探頭的遠場分辨力不小于20dB
D. 儀器至少在顯示屏滿刻度的80%范圍內(nèi)呈線性顯示
A. φ2×20－16dB
B. φ2×20－13dB
C. φ2×20－10dB
D. φ2×20－7dB
A. GS-1
B. GS-2
C. GS-3
D. GS-4
A.探頭前沿短
B. 折射角大
C. 晶片面積小、
D. 以上同時考慮
A. CSK－ⅠA
B. T3型
C. CSK－ⅡA
D. T1型
最新試題
用2.5P14Z探頭檢測鍛件，利用工件100mm大平底，如何校準同工件，厚度180m處 的檢測靈敏度？
用2.5P20Z直探頭檢測厚400mm的鋼鍛件（CL=5900m/s ） ，檢測靈敏度校準（400/Ф2）后進行檢測，發(fā)現(xiàn)在250mm處有一缺陷，缺陷波幅比基準波幅高30dB，求此缺陷當(dāng)量？
用2.5P14Z直探頭檢測外徑1100mm，壁厚200mm筒形鋼鍛件 CL= 5900m/s 。 在內(nèi)壁作徑向檢測時， 如何用外壁曲面回波調(diào)節(jié)Ф=2mm檢測靈敏度？
用2.5P20Z探頭檢測厚400mm的鋼鍛件，鋼中CL=5900m/s ， 衰減系數(shù)α2= 0.01dB/mm ， （1）如用試塊（衰減可忽略）上的深200mm ，Ф4mm的平底孔校準400mm處檢測靈敏度（400/Ф2），兩者的波高差為多少？ （2）如果用厚度為200mm的試塊（鍛件與試塊衰減系數(shù)相同，耦合差為5dB）底波調(diào)節(jié)檢測靈敏度（400/Ф2），兩者反射波高差為多少？
用2.5P20Z探頭檢測400mm的工件, CL= 5900m/s , 如何利用150mm處Ф4平底孔調(diào)節(jié)400/Ф2靈敏度？
用2.5P20Z探頭檢測厚400mm的鋼鍛件，鋼中CL=5900m/s ， 如何用試塊上的深150mm ，Ф4mm的平底孔校準400mm處的檢測靈敏度（400/Ф2）？
面積為1×1m2的鋼板超聲檢測，發(fā)現(xiàn)有以下缺陷：指示長度為90mm面積80cm2的缺陷4個， 指示長度為75mm，面積50cm2的缺陷3個；指示長度為50mm 面積12cm2的缺陷5個；各缺陷間距均大于100mm，試根JB/T4730.3－2005標準判別鋼板等級。
用5P10×12K2.5探頭，檢測板厚T = 20 mm 的鋼對接焊接接頭，掃描時基線按水平1：1調(diào)節(jié)，檢測時，水平刻度40和70mm處各發(fā)現(xiàn)缺陷波一個，試分別求這兩個缺陷的深度？
用5P10×12K2探頭檢測板厚T = 24mm 鋼板對接焊縫，掃描線按深度2：1調(diào)節(jié)，檢測 時在水平刻度τf= 60處發(fā)現(xiàn)一缺陷波，計算此缺陷深度和水平距離？
用K2斜探頭檢測T = 28mm 的鋼板對接接頭 ，儀器按深度1：1調(diào)節(jié)，在顯示屏上利用CSK-ⅢA試塊繪制Ф1×6面板曲線，這時衰減器讀數(shù)為34dB ， 試塊與工件耦合差為5dB ，（1） 如何調(diào)節(jié)評定線Ф1×6－9dB靈敏度？（2） 檢測中在 =50處發(fā)現(xiàn)一缺陷波，其波高達面板曲線時， 衰減器讀數(shù)為28dB，求該缺陷的當(dāng)量和所在區(qū)域？（按照JB/T4730.3-2005《承壓設(shè)備無損檢測》標準）