填空題在高于起始放電電壓時，絕緣的介質(zhì)損耗會隨電壓的增加而（）。因此，用測量介質(zhì)損耗的方法，可以探測設(shè)備的局部放電，即所謂測量絕緣的（）。但這種方法的靈敏度較低。
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