判斷題每個(gè)防靜電屏蔽袋原則上只能裝一塊單板組件，特殊情況下需同時(shí)裝多塊小板時(shí)必須用內(nèi)袋層或其它防靜電材料相互隔開(kāi)，不得直接接觸混放。

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最新試題

PON接口測(cè)試，接收機(jī)靈敏度。在參考點(diǎn)測(cè)得的平均接收功率的（）應(yīng)符合設(shè)備供應(yīng)方承諾的指標(biāo)要求。

題型：填空題

初驗(yàn)測(cè)試階段，應(yīng)對(duì)全套技術(shù)文件進(jìn)行（）和移交，包括（）、系統(tǒng)文件、硬件設(shè)備技術(shù)、軟件系統(tǒng)技術(shù)文件、安裝和測(cè)試文件、維護(hù)和操作文件及各種建設(shè)單位認(rèn)為必要的其他技術(shù)文件。

題型：填空題

業(yè)務(wù)承載性能測(cè)試，STM-1/E1誤碼率測(cè)試。測(cè)試時(shí)間（）小時(shí)，通道的誤比特率為（）。

題型：填空題

SNI/UNI接口測(cè)試，10GE，GE和FE接口。接收機(jī)靈敏度。在R參考點(diǎn)測(cè)得的平均接收功率的（），應(yīng)符合設(shè)計(jì)規(guī)定和設(shè)備供應(yīng)方承諾的指標(biāo)要求。

題型：填空題

PON接口測(cè)試，項(xiàng)目平均發(fā)射光功率。在參考點(diǎn)測(cè)得的平均光功率應(yīng)符合設(shè)備供應(yīng)方承諾的指標(biāo)要求。在ODF架上測(cè)試時(shí)，允許引入不大于（）dB衰減。

題型：填空題

試運(yùn)行結(jié)束，工程遺留問(wèn)題已解決，可進(jìn)行工程終驗(yàn)，工程終驗(yàn)由（）組織。

題型：填空題

終驗(yàn)時(shí)：提交的竣工技術(shù)文件有哪些？（寫(xiě)出十個(gè)）

題型：?jiǎn)柎痤}

光分路器測(cè)試。采用（）對(duì)分路器的每個(gè)端口進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試時(shí)將光分路器從光線路中斷開(kāi)。測(cè)試結(jié)果符合廠商出廠測(cè)試指標(biāo)。

題型：填空題

工程初驗(yàn)應(yīng)按照本規(guī)范和設(shè)計(jì)文件的要求，對(duì)（）質(zhì)量進(jìn)行抽檢，對(duì)設(shè)備和（）進(jìn)行抽測(cè)，對(duì)竣工技術(shù)文件進(jìn)行審查，對(duì)已安裝設(shè)備進(jìn)行移交，對(duì)備盤(pán)備件進(jìn)行清點(diǎn)移交。

題型：填空題

平均發(fā)射光功率。在S參考點(diǎn)測(cè)得的平均光功率應(yīng)滿足設(shè)計(jì)和設(shè)備供應(yīng)方承諾的指標(biāo)要求，在ODF架上測(cè)試時(shí)，允許引入不大于0.5dB衰減。

題型：判斷題