A.平底孔
B.V型槽
C.矩形槽
D.以上都是
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A.波形轉(zhuǎn)換
B.壓電效應(yīng)
C.折射
D.阻抗匹配
A.頻帶越寬,脈沖越寬,則分辨力高,靈敏度低
B.頻帶越寬,脈沖越寬,則分辨力低,靈敏度高
C.頻帶越寬,脈沖越窄,則分辨力低,靈敏度高
D.頻帶越寬,脈沖越窄,則分辨力高,靈敏度低
A.減小盲區(qū)
B.使聲能集中在某一區(qū)域
C.提高信噪比
D.以上都是
A.提高近表面缺陷的探測(cè)能力
B.精確測(cè)量缺陷的尺寸
C.擴(kuò)大掃查面積
D.增加探測(cè)深度
A.提高局部區(qū)域的檢測(cè)靈敏度
B.提高信噪比
C.提高局部區(qū)域的橫向分辨力
D.以上都是
最新試題
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指()。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
單探頭法容易檢出()。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的()。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。