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判斷題斷層測量測量（CGI，ICT）為破壞性接觸測量。

1.判斷題CMM測量速度快。

2.判斷題CMM測量精度數十到數百個μm。

3.判斷題CMM測量精度幾個μm。

4.判斷題結構光掃描測量是非接觸測量，測量速度快。

5.判斷題結構光掃描測量精度為數十到數百個μm。