A.setUp（）
B.set（）
C.setap（）
D.setDown（）
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A.自中向下增量測(cè)試方法
B.自底向上增量測(cè)試方法
C.多次性測(cè)試
D.維護(hù)
A.條件覆蓋
B.條件組合覆蓋
C.語(yǔ)句覆蓋
D.判定覆蓋
A.條件覆蓋
B.條件組合覆蓋
C.語(yǔ)句覆蓋
D.判定覆蓋
A.private void testXXX（）
B.public void testXXX（）
C.public float testXXX（）
D.public int testXXX（）
A.白盒測(cè)試側(cè)重于程序結(jié)構(gòu)，黑盒測(cè)試側(cè)重于功能
B.白盒測(cè)試可以使用測(cè)試工具，黑盒測(cè)試不能使用工具
C.白盒測(cè)試需要程序參與，黑盒測(cè)試不需要
D.黑盒測(cè)試比白盒測(cè)試應(yīng)用更廣泛
最新試題
白盒測(cè)試作為一種基本測(cè)試方法，應(yīng)用廣泛，但（）不屬于該類方法。
測(cè)試優(yōu)先級(jí)中，用戶用的越多或?qū)I(yè)務(wù)影響越關(guān)鍵的測(cè)試項(xiàng)，其測(cè)試優(yōu)先級(jí)也越高。
在logical coverage法中覆蓋范圍比較小的是（）。
以并發(fā)用戶數(shù)為例，進(jìn)行負(fù)載測(cè)試參數(shù)輸入時(shí)，下面哪一個(gè)不是負(fù)載測(cè)試的加載方式？（）
強(qiáng)調(diào)對(duì)評(píng)審對(duì)象要從頭到尾檢查一遍，容易發(fā)現(xiàn)表面問(wèn)題。說(shuō)的是以下哪一種評(píng)審方法？（）
測(cè)試中有風(fēng)險(xiǎn)存在：基于所使用的測(cè)試工具、測(cè)試方法、用例的局限性，某些情況下軟件缺陷不會(huì)被發(fā)現(xiàn)；所以我們應(yīng)當(dāng)正確使用測(cè)試用例，保障滿足一定的覆蓋率。
測(cè)試輸入是測(cè)試計(jì)劃制定的依據(jù)，但不包括下面哪個(gè)內(nèi)容？（）
代碼審查：是以審查小組運(yùn)行測(cè)試用例的形式進(jìn)行審查。
使用QTP軟件進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試，下面對(duì)其中應(yīng)用描述錯(cuò)誤的是（）
軟件缺陷的優(yōu)先級(jí)從P1-P4級(jí)下面對(duì)其描述正確的是（）