A.原子核對(duì)電子的彈性散射
B.原子核對(duì)電子的非彈性散射
C.核外電子對(duì)入射電子的非彈性散射
D.核外電子對(duì)入射電子的彈性散射
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A.二次電子
B.俄歇電子
C.特征x射線
D.特征X熒光
A.彈性散射
B.散射
C.非彈性散射
D.都不對(duì)
A.庫(kù)侖力
B.靜電斥力力
C.靜電吸引力
D.范德華力
最新試題
熱分析技術(shù)中，試樣用量越多，熱效應(yīng)大，內(nèi)部傳熱慢，溫度梯度大，導(dǎo)致峰形擴(kuò)大，峰頂溫度滯后，容易使相鄰峰重疊，降低分辨率。
1887年，Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。
在體心點(diǎn)陣中，當(dāng)（HKL）晶面的H+K+L為奇數(shù)時(shí)，產(chǎn)生系統(tǒng)消光。
每種晶體物質(zhì)都有自己特定的晶體結(jié)構(gòu)，晶體結(jié)構(gòu)不同則X射線衍射花樣也就各不相同。
變形振動(dòng)分為（）。
拉曼光譜分析儀在使用過(guò)程中，正確的實(shí)驗(yàn)操作有（）。
掃描電鏡的背散射電子像中，圖像上亮區(qū)對(duì)應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)（）暗區(qū)對(duì)應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)。
在熱分析技術(shù)中，利用程序溫控裝置，可以升溫、降溫，但不能測(cè)定材料在恒溫過(guò)程中發(fā)生的變化。
差熱分析中，若試樣沒(méi)有熱效應(yīng)時(shí)，記錄儀所記錄的ΔT曲線，為水平直線，稱為（）。
利用電子探針的波譜儀，一個(gè)分光晶體能夠覆蓋的波長(zhǎng)范圍有限的，因此一個(gè)分光晶體只能檢測(cè)一定原子序數(shù)范圍的元素。