圖是直射縱波一次脈沖反射法檢測同樣厚度試件的三種典型的波形圖。比較各波形,試判斷在同樣檢測條件下,哪個(gè)波形圖可能存在較大缺陷()
A.波形圖1
B.波形圖2
C.波形圖3
D.不能確定
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圖是雙晶探頭脈沖反射法檢測示意圖,如果右圖中波T和波3分別是始波和試件底波,則波1和波2分別代表以下哪種波()
A.波1是缺陷F波、波2是缺陷F二次波
B.波1是雜波、波2是缺陷F波
C.波1是界面波、波2為缺陷F波
D.以上都可能
一缺陷主平面垂直于試件A面且位于試件中部,如圖所示,如果只能從試件B面探測的話,采用下列哪種技術(shù)比較合適?()
A.直射聲束單探頭
B. 斜射聲束單探頭
C.直射聲束雙探頭
D.斜射聲束雙探頭
一缺陷主平面垂直于試件A面且位于試件中部,如圖所示,如果只能從試件A面探測的話,采用下列哪種技術(shù)最為合適()
A.直射聲束單探頭
B.斜射聲束單探頭
C.直射聲束雙探頭
D.斜射聲束雙探頭
圖是幾種收-發(fā)雙探頭檢測方法,如果圖中探頭的位置固定,則當(dāng)沒有缺陷F時(shí),哪種排列方式的探頭可以接收到回波()
A.圖中a
B.圖中b
C.圖中c
D.都不可以
圖是正常情況下帶延遲塊探頭直射聲束檢測波形圖,哪個(gè)描述是較為正確的()
A.回波1為一次界面波,回波2為二次界面波
B.回波1為一次界面波,回波2為一次底波
C.回波1為始脈沖波,回波2為一次底波
D.回波1為始脈沖波,回波2為一次界面波
最新試題
單探頭法容易檢出()。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說法錯(cuò)誤的是()。
()可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長距離檢測。
()是影響缺陷定量的因素。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯(cuò)誤的是()。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測,儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。