A.薄膜及支持體
B.內(nèi)參比溶液
C.內(nèi)參比電極
D.外部試液
E.電位計(jì)
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A.與溶液中氫離子的活度呈線性關(guān)系
B.與溶液中氫離子的濃度呈線性關(guān)系
C.與溶液中氫離子濃度的負(fù)對(duì)數(shù)呈線性關(guān)系
D.與溶液中氫離子活度的對(duì)數(shù)呈線性關(guān)系
對(duì)于玻璃電極，當(dāng)
時(shí)，膜電位應(yīng)等于零，但實(shí)際并不等于零，此電位差稱(chēng)為（）
A.膜電位
B.擴(kuò)散電位
C.液接電位
D.不對(duì)稱(chēng)電位
應(yīng)用最早、最廣泛的電位測(cè)量法是（）
A.A
B.B
C.C
D.D
A.Hg-Hg2Cl2
B.鉑電極
C.銅絲
D.Ag-AgCl
A.鉑電極
B.玻璃電極
C.銀電極
D.離子選擇性電極
最新試題
AAS的火焰原子化器具有穩(wěn)定性高、使用方便等優(yōu)點(diǎn)。但火焰原子化器的霧化效率較低，原子化效率也低；且基態(tài)原子蒸氣在火焰吸收區(qū)停留時(shí)間短，原子蒸氣在火焰中被大量氣體稀釋?zhuān)沟闷潇`敏度不高。
在AAS測(cè)試中，原子化條件的選擇對(duì)測(cè)定的靈敏度和準(zhǔn)確度無(wú)影響。
消除AAS測(cè)試中的電離干擾可采用適當(dāng)控制火焰溫度，加入消電離劑（主要為堿金屬元素）等來(lái)抑制待測(cè)原子的電離。
色譜流出曲線圖中的標(biāo)準(zhǔn)差是指正態(tài)色譜峰上兩拐點(diǎn)間距離的一半，其大小反映組分流出色譜柱的離散程度，標(biāo)準(zhǔn)差越大，色譜峰越寬。
質(zhì)譜儀中真空系統(tǒng)的作用是使離子在真空狀態(tài)下從離子源到達(dá)檢測(cè)器。
分子內(nèi)各種官能團(tuán)的特征吸收峰只出現(xiàn)在紅外光波譜的一定范圍。
在AAS測(cè)試中，石墨爐原子化時(shí)，凈化溫度應(yīng)高于原子化溫度，凈化的時(shí)間為3~5s，目的是去除試樣殘留物，消除記憶效應(yīng)。
高壓梯度（內(nèi)梯度）洗脫是將溶劑用高壓泵增壓后輸入色譜系統(tǒng)的梯度混合室，加以混合后送入色譜柱的過(guò)程。
火焰原子化器是利用火焰的溫度及火焰的氧化還原氣氛，將試樣中待測(cè)元素原子化。
離子選擇性電極的校準(zhǔn)曲線的直線部分所對(duì)應(yīng)的離子活度范圍稱(chēng)為離子選擇性電極的線性范圍。