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判斷題非接觸測量還可以分為被動式掃描和主動式掃描兩類。被動式掃描系統(tǒng)，常見的方法有相位測量輪廓法、光度立體法（Photometric Stereo）、立體視差法（Binocular Stereo Vision）等。

1.判斷題非接觸測量還可以分為被動式掃描和主動式掃描兩類。被動式掃描系統(tǒng)，常見的方法有傅里葉變換輪廓術、光度立體法（Photometric Stereo）、光度立體法（Photometric Stereo）、立體視差法（Binocular Stereo Vision）等。

2.判斷題非接觸測量還可以分為被動式掃描和主動式掃描兩類。被動式掃描系統(tǒng)，常見的方法有陰影恢復形狀法SFS（Shape From Shading）、光度立體法（Photometric Stereo）、立體視差法（Binocular Stereo Vision）等。

3.判斷題從CMM的工作原理說，它不可以測量垂直于孔軸線的截面圓。

4.判斷題從CMM的工作原理說，它僅可以截面圓的圓度。

5.判斷題從CMM的工作原理說，它可以測量任何工件的任何幾何元素的任何參數。