A.發(fā)射和接受波形變化
B.振幅和相位變化
C.諧振頻率和振幅變化
D.電渦流變化
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A.發(fā)射和接受波形變化
B.振幅和相位變化
C.諧振頻率和振幅變化
D.電渦流變化
A.反射法
B.穿透法
C.諧振法
D.聲振法
A.蜂窩積水
B.蜂窩板的脫層
C.蜂窩損傷
D.都可以
A.50Hz-500Hz
B.500Hz-50KHz
C.35KHz–500KHz
D.500KHZ–5MHz
A.防止探頭磨損和有利于探頭滑動(dòng)
B.減小漆層對(duì)靈敏度的影響
C.消除探頭和探傷面之間的空氣
D.改善信噪比
最新試題
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的()。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
單探頭法容易檢出()。