填空題測(cè)試泛指（）和試驗(yàn)兩個(gè)方面的技術(shù)，是具有試驗(yàn)性質(zhì)的測(cè)量，是測(cè)量和試驗(yàn)的綜合。
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1.單項(xiàng)選擇題電測(cè)法具有測(cè)試范圍廣、精度高、靈敏度高、響應(yīng)速度快等優(yōu)點(diǎn)，特別適合于（）
A.靜態(tài)測(cè)試
B.線性測(cè)試
C.動(dòng)態(tài)測(cè)試
D.非線性測(cè)試
2.單項(xiàng)選擇題一個(gè)被測(cè)量與一個(gè)預(yù)定標(biāo)準(zhǔn)之間進(jìn)行定量比較，從而獲得被測(cè)對(duì)象的數(shù)值結(jié)果過(guò)程稱(chēng)為（）
A.測(cè)試
B.測(cè)量
C.試驗(yàn)
D.傳感
3.單項(xiàng)選擇題依據(jù)機(jī)敏材料本身的物性隨被測(cè)量的變化來(lái)實(shí)現(xiàn)信號(hào)轉(zhuǎn)換的裝置稱(chēng)為（）
A.物理型傳感器
B.結(jié)構(gòu)型傳感器
C.電橋
D.A/D轉(zhuǎn)換器
最新試題
LabVIEW的（）模板主要提供各種用于創(chuàng)建、修改和調(diào)試VI程序的工具。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
PXI總線標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了其物理尺寸有（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
系統(tǒng)備選測(cè)試集中可能存在冗余測(cè)試，需要選擇最優(yōu)的測(cè)試組合，這種過(guò)程稱(chēng)為（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
相比較而言，（）的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試精度更高。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
霍爾電壓與（）成反比關(guān)系。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
被測(cè)對(duì)象有很多故障而測(cè)試儀器顯示沒(méi)有故障，屬于（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
VXI總線具有（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
一個(gè)測(cè)控總線為16位，它描述的是該總線的（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)硬件設(shè)計(jì)中，單路輸出結(jié)構(gòu)應(yīng)包括（）、（）和（）這幾個(gè)部分，最后信號(hào)送到儀表或執(zhí)行機(jī)構(gòu)。
題型：多項(xiàng)選擇題
自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)過(guò)程中，硬件和軟件設(shè)計(jì)都應(yīng)遵循（）的要求。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題