A.5mm
B.10mm
C.20mm
D.40mm
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A.會(huì)使聲束產(chǎn)生彎曲現(xiàn)象
B.會(huì)產(chǎn)生固定的遲到回波
C.聲束在側(cè)壁上會(huì)產(chǎn)生變型波
D.以上都有可能
A.靈敏度、脈沖寬度、指向性
B.靈敏度、衰減、草狀回波
C.衰減、草狀回波
D.要求發(fā)現(xiàn)的缺陷尺寸
A.靈敏度、脈沖寬度、指向性
B.靈敏度、衰減、草狀回波
C.衰減、草狀回波
D.要求發(fā)現(xiàn)的缺陷尺寸
A.有足夠的潤(rùn)濕性
B.與零件的聲特性阻抗差盡量要小
C.對(duì)零件無(wú)腐蝕
D.以上都是
A.容易附著在零件表面
B.來(lái)源方便、價(jià)格低廉
C.容易清除
D.以上都是
最新試題
單探頭法容易檢出（）。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線(xiàn)所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線(xiàn)長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱(chēng)為（）。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí)，適用的工件厚度為（）。
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來(lái)表征。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低，（）。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對(duì)缺陷進(jìn)行（）。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè)，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。