單項選擇題電子束穿透固體樣品的能力，主要取決于電壓V和樣品物質(zhì)的原子序數(shù)Z。一般V （），Z （），電子束可以穿透的樣品厚度越大。
A.越低，越低
B.越低，越高
C.越高，越高
D.越高，越低
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3.單項選擇題在掃描電子顯微鏡中，下列二次電子像襯度最亮的區(qū)域是（）
A.和電子束垂直的表面
B.和電子束成30°的表面
C.和電子束成45°的表面
D.和電子束成60°的表面
4.單項選擇題下列不屬于電子光學(xué)系統(tǒng)的是（）
A.電子槍
B.電磁透鏡
C.圖像顯示系統(tǒng)
D.樣品室及信號探測
5.單項選擇題各元素的俄歇電子能量值很低，來自樣品表面（）nm
A.0.02-0.05
B.1-2
C.5-10
D.10-20
最新試題
當(dāng)?shù)挂浊蚺c反射球相交，交線是一個圓環(huán)，環(huán)上每一點都滿足衍射條件，可以產(chǎn)生衍射。
題型：判斷題
電子探針和X射線衍射儀一樣，都可以直接確定材料中所包含的物相。
題型：判斷題
熱分析中對樣品的重量沒有要求，只要樣品尺寸能放進坩堝內(nèi)，就可以獲得良好的測試結(jié)果。
題型：判斷題
熱分析中，不同性質(zhì)的氣氛對測試結(jié)果沒有影響。
題型：判斷題
電子束與固體樣品作用時，會產(chǎn)生背散射電子。背反射電子的產(chǎn)額隨樣品（）的增加而增多。
題型：單項選擇題
差熱分析中，若試樣沒有熱效應(yīng)時，記錄儀所記錄的ΔT曲線，為水平直線，稱為（）。
題型：單項選擇題
關(guān)于stokes線和anti-Stokes線，說法正確的是（）。
題型：多項選擇題
X射線衍射儀中，通常用于測定2θ范圍不大的一段衍射圖，常用于精確測定衍射峰的積分強度和位置的掃描方式為（）。
題型：單項選擇題
粉末多晶樣品中，不同晶面指數(shù)的倒易點分布在（）半徑的倒易球上。
題型：單項選擇題
1887年，Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。
題型：判斷題