問答題指出下列敘述中的錯誤，并予以改正：“對材料AmBn的研究方法是：用X射線衍射儀器對材料進行含量及顯微組織形貌的測定；用掃描電鏡對材料進行物相分析，確定其晶體學(xué)參數(shù)；用透射電鏡對材料界面、結(jié)合組態(tài)進行測試分析”。
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電子探針的能譜儀和波譜儀比較，波譜儀（）。
題型：多項選擇題
在紅外光譜分析中，基本振動區(qū)是指（）。
題型：單項選擇題
1887年，Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。
題型：判斷題
與光鏡呈像相比，掃描電鏡圖像立體感強，形態(tài)逼真，這是由于掃描電鏡的（）比光鏡大100-500倍。
題型：單項選擇題
熱分析技術(shù)中，試樣用量越多，熱效應(yīng)大，內(nèi)部傳熱慢，溫度梯度大，導(dǎo)致峰形擴大，峰頂溫度滯后，容易使相鄰峰重疊，降低分辨率。
題型：判斷題
簡單立方結(jié)構(gòu)材料發(fā)生衍射時，可以產(chǎn)生衍射的晶面為（）。
題型：多項選擇題
掃描隧道顯微鏡能用于觀察導(dǎo)體、半導(dǎo)體和絕緣體材料的表面結(jié)構(gòu)。
題型：判斷題
掃描電鏡的二次電子像中，樣品表面的深凹槽底部產(chǎn)生較多二次電子，在熒光屏上這些部位的亮度較大。
題型：判斷題
在熱分析技術(shù)中，利用程序溫控裝置，可以升溫、降溫，但不能測定材料在恒溫過程中發(fā)生的變化。
題型：判斷題
晶體的X射線衍射方向反映了晶胞的（）。
題型：多項選擇題