A.入射的粒子將能量傳給氣體分子，產(chǎn)生電離或激發(fā)，進(jìn)而產(chǎn)生載流子
B.通過(guò)軔致輻射產(chǎn)生的低能X射線，對(duì)載流子基本沒(méi)有貢獻(xiàn)，所以在任何實(shí)驗(yàn)中都不需要考慮此過(guò)程
C.γ射線需要先產(chǎn)生帶電粒子才能夠沉積能量，產(chǎn)生載流子
D.如果中子能與探測(cè)器內(nèi)的氣體發(fā)生核反應(yīng)產(chǎn)生帶電粒子，則可以沉積能量，產(chǎn)生載流子
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A.電子
B.離子
C.氣體分子
D.電子-離子對(duì)
A.G-M計(jì)數(shù)管工作在有限正比區(qū)
B.G-M計(jì)數(shù)管可以用來(lái)測(cè)量入射粒子的能量
C.自熄對(duì)于提升G-M計(jì)數(shù)管的時(shí)間響應(yīng)有重要意義
D.G-M計(jì)數(shù)管的死時(shí)間屬于擴(kuò)展型死時(shí)間
A.碰撞電離只有電子能完成，離子不能
B.光子反饋會(huì)形成新的雪崩過(guò)程，增大信號(hào)，所以不需要控制
C.電流脈沖I（t）的形狀一定，與入射粒子的位置無(wú)關(guān)
D.測(cè)量一個(gè)信號(hào)的時(shí)間在μs級(jí)，可獲得快的時(shí)間響應(yīng)
A.輸出信號(hào)通常為直流電流信號(hào)或電壓信號(hào)
B.累計(jì)電離室不能測(cè)量入射粒子的數(shù)量
C.累計(jì)電離室和脈沖電離室是兩種測(cè)量原理不同的氣體探測(cè)器
D.累計(jì)電離室存在一定的線性范圍，超出范圍則輸出幅度與入射粒子流強(qiáng)度不成正比
A.飽和特性曲線用于描述脈沖幅度與射線強(qiáng)度的關(guān)系
B.坪特性曲線用于描述計(jì)數(shù)率與工作電壓的關(guān)系
C.對(duì)于帶電粒子或不帶電粒子，本征探測(cè)效率小于1的原因是一樣的
D.分辨時(shí)間主要取決于輸出電路的參數(shù)，與放大器等后續(xù)電子學(xué)無(wú)關(guān)
最新試題
關(guān)于24Na-9Be中子源的描述不正確的是（）。
下列哪項(xiàng)不屬于中子探測(cè)方法？（）
下列關(guān)于符合曲線描述錯(cuò)誤的是（）。
關(guān)于241Am-9Be中子源的描述不正確的是（）。
關(guān)于延遲符合，下列描述錯(cuò)誤的是（）。
小立體角法是測(cè)量α源活度的手段之一，關(guān)于此方法的描述錯(cuò)誤的是（）。
對(duì)偶然符合描述正確的是（）。
下列對(duì)于常用的中子探測(cè)器的描述不正確的是（）。
測(cè)量厚樣品α源，下列說(shuō)法正確的是（）。
吸收和散射對(duì)探測(cè)器活度測(cè)量也有影響，下列說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）。