多項(xiàng)選擇題缺陷測(cè)長(zhǎng)法包括（）。

A.端部回波峰值法
B.絕對(duì)靈敏度法
C.端點(diǎn)峰值法
D.相對(duì)靈敏度法


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1.多項(xiàng)選擇題觀片室工作環(huán)境要求是（）。

A.單獨(dú)布置
B.室內(nèi)光線明亮
C.室內(nèi)光線偏暗
D.和其他工作室隔離

2.多項(xiàng)選擇題如果分子的勢(shì)能改變了，說(shuō)明（）改變了。

A.物體的體積
B.物體的形態(tài)
C.物體的物態(tài)
D.物體材質(zhì)特性

3.多項(xiàng)選擇題超聲波探頭發(fā)射的超聲脈沖頻率有一定帶寬，寬帶探頭對(duì)應(yīng)的（）。

A.脈沖寬度較寬
B.脈沖寬度較小
C.靈敏度低
D.靈敏度高

4.多項(xiàng)選擇題熒光磁粉檢測(cè)時(shí)，磁痕觀察環(huán)境條件要求有（）。

A.使用黑光燈，暗區(qū)內(nèi)觀察
B.可見(jiàn)光照度不大于20lx
C.可以戴光敏晶片的眼鏡
D.可以戴防紫外光的眼鏡

5.多項(xiàng)選擇題數(shù)字超聲波探傷儀的（）與模擬儀器是相同的。

A.發(fā)射電路
B.接收電路
C.顯示電路
D.同步電路