A.Z靶< 40，Z濾=Z靶-2；Z靶>40，Z濾=Z靶-1
B.Z靶< 40，Z濾=Z靶-1；Z靶>40，Z濾=Z靶-2
C.Z靶>40，Z濾=Z靶-1；Z靶< 40，Z濾=Z靶-2
D.Z靶< 40，Z濾=Z靶+1；Z靶>40，Z濾=Z靶+2
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A.巴克拉
B.勞厄
C.倫琴
D.布拉格父子
有一倒易矢量為
，與它對(duì)應(yīng)的正空間晶面是（）。
A.（210）
B.（220）
C.（221）
D.（110）
A.背散射電子
B.吸收電子
C.二次電子
D.透射電子
A.衍射花樣遵循晶體消光規(guī)律
B.單晶樣品的電子衍射花樣是同心圓環(huán)
C.衍射花樣滿足布拉格方程
D.分析衍射花樣，可以與標(biāo)準(zhǔn)花樣對(duì)照
最新試題
粉末多晶樣品中，不同晶面指數(shù)的倒易點(diǎn)分布在（）半徑的倒易球上。
透射電鏡的成像操作和電子衍射操作是通過(guò)調(diào)節(jié)（）的位置來(lái)實(shí)現(xiàn)的。
（）需要試樣與參比物之間溫度始終保持相同。
晶體的X射線衍射方向反映了晶胞的（）。
1887年，Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。
熱分析中對(duì)樣品的重量沒有要求，只要樣品尺寸能放進(jìn)坩堝內(nèi)，就可以獲得良好的測(cè)試結(jié)果。
X射線衍射儀中，通常用于測(cè)定2θ范圍不大的一段衍射圖，常用于精確測(cè)定衍射峰的積分強(qiáng)度和位置的掃描方式為（）。
在電子探針面分析中，根據(jù)圖像上亮點(diǎn)的疏密和分布，可確定該元素在試樣中分布情況，亮區(qū)代表元素含量（）。
熱分析技術(shù)中，試樣用量越多，熱效應(yīng)大，內(nèi)部傳熱慢，溫度梯度大，導(dǎo)致峰形擴(kuò)大，峰頂溫度滯后，容易使相鄰峰重疊，降低分辨率。
在體心點(diǎn)陣中，當(dāng)（HKL）晶面的H+K+L為奇數(shù)時(shí)，產(chǎn)生系統(tǒng)消光。