如圖根據(jù)實驗繪制出的泄露電流與所加電壓的波形,從圖中曲線可以得到的結(jié)論是()
A.曲線1對應(yīng)絕緣電阻大,絕緣良好
B.曲線2對應(yīng)絕緣整體受潮,絕緣電阻變小
C.曲線3、曲線4對應(yīng)絕緣中有集中性缺陷
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A.發(fā)現(xiàn)缺陷有效性高
B.易判斷缺陷性質(zhì)
C.發(fā)現(xiàn)缺陷的靈敏度高
D.接線復(fù)雜、需要高壓電源、電壓電流測量系統(tǒng),屏蔽系統(tǒng)
A.試驗高壓電源對橋體雜散電容的影響。
B.外界電場的干擾。
C.外界磁場干擾。
A.外殼
B.高壓繞組
C.低壓繞組
D.中壓繞組
A.開裂
B.受潮
C.老化
D.變質(zhì)
A.集中性缺陷
B.特殊性缺陷
C.分布性缺陷
D.貫穿性缺陷
最新試題
測量介損不能發(fā)現(xiàn)的缺陷有()
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