A.實(shí)驗(yàn)次數(shù)N很大時(shí)，二項(xiàng)分布趨近于泊松分布
B.二項(xiàng)分布只有兩種可能的測(cè)量結(jié)果
C.泊松分布的方差等于其數(shù)學(xué)期望
D.泊松分布的期望遠(yuǎn)大于1時(shí)，其分布可簡(jiǎn)化為高斯分布
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A.系統(tǒng)誤差影響測(cè)量的準(zhǔn)確度，偶然誤差影響系統(tǒng)的精密度
B.核事件的統(tǒng)計(jì)漲落是核測(cè)量中常見的偶然誤差
C.未考慮核反應(yīng)分支比而造成測(cè)量結(jié)果與預(yù)期結(jié)果存在較大差距屬于系統(tǒng)誤差導(dǎo)致的準(zhǔn)確度降低
D.使用理想的儀器測(cè)量核事件，可以去掉統(tǒng)計(jì)漲落的影響
A.經(jīng)過(guò)足夠多的重復(fù)實(shí)驗(yàn)，可以發(fā)現(xiàn)實(shí)驗(yàn)儀器的系統(tǒng)誤差
B.經(jīng)過(guò)足夠多的重復(fù)實(shí)驗(yàn)，可以降低測(cè)量過(guò)程中的偶然誤差
C.實(shí)驗(yàn)儀器的不精確、實(shí)驗(yàn)步驟設(shè)計(jì)不科學(xué)都屬于系統(tǒng)誤差
D.實(shí)驗(yàn)室溫度、研究人員的工作狀態(tài)對(duì)測(cè)量的影響屬于偶然誤差
A.均方根偏差可以為負(fù)數(shù)
B.均方根偏差越大，則相對(duì)均方根偏差也必然越大
C.均方根偏差與相對(duì)均方根偏差在實(shí)際測(cè)量中是一個(gè)意思
D.相對(duì)均方根偏差越小，則測(cè)量越精確
A.二者都是常用的統(tǒng)計(jì)參數(shù)
B.對(duì)于一個(gè)隨機(jī)變量而言，它的數(shù)學(xué)期望、方差的量綱是不同的
C.實(shí)驗(yàn)次數(shù)有限時(shí)，算術(shù)平均值等于數(shù)學(xué)期望
D.方差描述的是隨機(jī)變量偏離均值的程度
A.可以近似為指數(shù)衰減過(guò)程
B.會(huì)有一定的最大射程
C.半衰減厚度就是此時(shí)的平均自由程
D.水、冰、水蒸氣的線性衰減系數(shù)相同
最新試題
下列對(duì)γ能譜的描述，錯(cuò)誤的是（）。
關(guān)于延遲符合，下列描述錯(cuò)誤的是（）。
吸收和散射對(duì)探測(cè)器活度測(cè)量也有影響，下列說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）。
下列對(duì)真偶符合比的描述正確的是（）。
下列對(duì)于常用的中子探測(cè)器的描述不正確的是（）。
關(guān)于中子的彈性、非彈性散射，下列說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）。
下列關(guān)于同位素源的特點(diǎn)的描述不正確的是（）。
幾何因素對(duì)探測(cè)器測(cè)量活度的影響描述正確的是（）。
下列關(guān)于符合曲線描述錯(cuò)誤的是（）。
改變下列哪項(xiàng)不會(huì)對(duì)活度探測(cè)產(chǎn)生明顯影響？（）