A.Df=λ
B.Df>λ
C.Df>>λ
D.Df<< λ
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A.超聲波的頻率
B.超聲波的波形
C.介質(zhì)的性質(zhì)
D.超聲波的發(fā)射功率
A.∑i=0
B.∑I=0
C.∑I=2I
D.以上都不是
A.渦流的擴(kuò)散衰減
B.交變電流的趨膚效應(yīng)
C.渦流探傷儀的功率小
D.材料的磁導(dǎo)率不均勻
A.端部盲區(qū)
B.信噪比
C.誤報(bào)率
D.周向靈敏度波動(dòng)
A.相位相同
B.外超前于內(nèi)
C.外置后于內(nèi)
D.無規(guī)律
最新試題
衍射時(shí)差法對缺陷的定量依賴于缺陷的回波幅度。
高溫探頭的外殼與阻尼塊為不銹鋼,電纜為無機(jī)物絕緣體高溫同軸電纜。
橫波檢測平板對接焊縫根部未焊透等缺陷時(shí),不同K值探頭檢測同一根部缺陷,其回波高相差不大。
衍射時(shí)差法對缺陷檢出率高,超聲波束覆蓋區(qū)域大,缺陷高度測量精確,實(shí)時(shí)成像,快速分析。
動(dòng)態(tài)范圍的最小信號(hào)可能受到放大器的飽合或系統(tǒng)噪聲的限制。
對于圓柱體而言,外圓徑向檢測實(shí)心圓柱體時(shí),入射點(diǎn)處的回波聲壓理論上同平底面工件相同。
對于圓柱體而言,外圓徑向檢測實(shí)心圓柱體時(shí),入射點(diǎn)處的回波聲壓實(shí)際上由于圓柱面耦合不及平面,因而其回波高于平底面,會(huì)使定量誤差增加。
水浸式探頭主要特點(diǎn)是探頭與工件直接接觸,且探頭部分或全部門浸入耦合液中。
衍射時(shí)差法探傷,當(dāng)有缺陷存在時(shí),在直通波和底面反射波之間,接收探頭會(huì)接收到缺陷處產(chǎn)生的衍射波。
水浸聚焦探頭是由外殼、阻尼塊、晶片、聲透鏡等組成。