A.缺陷取向
B.缺陷波幅和傳播時(shí)間
C.缺陷的指示長度
D.以上都是
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A.增加發(fā)射強(qiáng)度
B.使回波的電信號(hào)放大倍數(shù)增加
C.提高晶片振動(dòng)次數(shù)
D.使發(fā)射的聲束尖銳
A.不同埋深的平底孔試塊
B.置于水中的鋼球
C.不同埋深的橫通孔試塊
D.以上都是
A.最有效的超聲能量發(fā)生器之一
B.最有效的超聲能量接收器之一
C.不溶于水
D.可經(jīng)受高達(dá)700℃的高溫
A.顯示器的刷新頻率
B.采樣頻率
C.存儲(chǔ)深度或字長
D.以上都是
A.便于信號(hào)的存儲(chǔ)、記錄和再現(xiàn)
B.顯示器不需要傳統(tǒng)的示波管
C.便于小型化
D.以上都是
最新試題
()是影響缺陷定量的因素。
超聲檢測儀盲區(qū)是指()。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測,儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
縱波直探頭徑向檢測實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
儀器水平線性影響()。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
探頭延檢測面水平移動(dòng),超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。