A.顯示器的刷新頻率
B.采樣頻率
C.存儲深度或字長
D.以上都是
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.便于信號的存儲、記錄和再現(xiàn)
B.顯示器不需要傳統(tǒng)的示波管
C.便于小型化
D.以上都是
A.對晶片的振動起阻尼作用
B.對晶片起支撐作用
C.吸收晶片背面發(fā)射的超聲波
D.以上都是
A.作為探測時的基準，并為評價工件中的缺陷與已知反射體進行比較；
B.為探傷人員提供一種確定缺陷實際尺寸的工具；
C.為檢出某一規(guī)定的參考反射體的所有缺陷提供保證；
D.提供一個能精確模擬某一臨界尺寸自然缺陷提供保證。
A.這些反射體的回波脈沖寬度是不一樣的
B.考慮到不同材質(zhì)的衰減因素；
C.可以隨工件情況不同以便得到一個能模擬某一特定尺寸的信號
D.以上都是
A.測定探頭特性
B.確定不連續(xù)性尺寸及位置
C.評估材料的聲傳播特性
D.以上都是
最新試題
移動探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動探頭，缺陷回波高度降低一半時，探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點，兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。
用橫波斜探頭檢測，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。
利用底波計算法進行靈敏度校準時，適用的工件厚度為（）。
（）可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
儀器水平線性影響（）。
當超聲波到達工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射，這種波是（）。
利用底波計算法校準靈敏度時，下面敘述中（）是錯誤的。
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對缺陷進行（）。