A.聲速轉(zhuǎn)換器
B.聲速射折器
C.聲透鏡
D.聲阻尼器
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A.還原劑
B.抑制劑
C.保護(hù)劑
D.促進(jìn)劑
A.碳酸鈉
B.米吐?tīng)?br />
C.溴化鉀
D.氫氧化鈉
A.寬度還算均勻的黑色條紋
B.黑色陰影
C.枝狀黑色花紋
D.兩端尖銳帶彎曲的黑色條紋
A.點(diǎn)狀?yuàn)A渣
B.焊瘤
C.氣孔
D.點(diǎn)狀合金
A.氣孔內(nèi)有空氣
B.氣孔表面光滑
C.氣孔發(fā)射反射波
D.氣孔聚集反射波
最新試題
爬波在自由表面的位移有垂直分量，但不是純粹的表面波。
衍射時(shí)差法對(duì)缺陷檢出率高，超聲波束覆蓋區(qū)域大，缺陷高度測(cè)量精確，實(shí)時(shí)成像，快速分析。
動(dòng)態(tài)范圍的最小信號(hào)可能受到放大器的飽合或系統(tǒng)噪聲的限制。
超聲波在圓柱內(nèi)反射，如果縱波在圓柱面上發(fā)生波形轉(zhuǎn)換，且一次反射橫波再經(jīng)另一側(cè)圓柱面波形轉(zhuǎn)換成二反射縱波，返回探頭接收，會(huì)形成等邊的三角形遲到回波。
在檢測(cè)晶粒粗大和大型工件時(shí)，應(yīng)測(cè)定材料的衰減系數(shù)，計(jì)算時(shí)應(yīng)考慮介質(zhì)衰減的影響。
高溫探頭的外殼與阻尼塊為不銹鋼，電纜為無(wú)機(jī)物絕緣體高溫同軸電纜。
無(wú)論聲波相對(duì)于缺陷是垂直入射還是斜入射，缺陷大小不同其反射波的指向性有相當(dāng)大的差異。
衍射時(shí)差法對(duì)缺陷的定量依賴于缺陷的回波幅度。
由于圓柱形工件有一定的曲率，直探頭與工件直接接觸時(shí)，接觸面為一條很寬的條形區(qū)域，從在而在圓柱的橫截面內(nèi)會(huì)產(chǎn)生強(qiáng)烈的聲束擴(kuò)散。
衍射時(shí)差法探傷，當(dāng)有缺陷存在時(shí)，在直通波和底面反射波之間，接收探頭會(huì)接收到缺陷處產(chǎn)生的衍射波。