A.大于45°
B.小于45°
C.等于45°
D.以上都可能
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A.密度之比
B.彈性模量之比
C.聲阻抗之比
D.聲速之比
A.輻射功率
B.透過率
C.界面兩側(cè)的聲阻抗差異
D.界面兩側(cè)的聲速差異
A.2.36mm
B.1.3mm
C.2.6mm
D.1.26mm
A.縱波
B.橫波
C.板波
D.表面波
E.以上都是
A.提高
B.降低
C.不變
D.不定
最新試題
調(diào)節(jié)時基線時，應(yīng)使（）同時對準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。
實(shí)際檢測中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。
（）可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
移動探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動探頭，缺陷回波高度降低一半時，探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。
超聲波儀時基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。
儀器水平線性影響（）。