A.減少
B.保持不變
C.增大
D.隨波長(zhǎng)均勻變化
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A.光電效應(yīng)
B.康普頓效應(yīng)
C.壓電效應(yīng)
D.熱效應(yīng)
A.入射角
B.第一臨界角
C.最大反射角
D.第二臨界角
A.大于45°
B.小于45°
C.等于45°
D.以上都可能
A.密度之比
B.彈性模量之比
C.聲阻抗之比
D.聲速之比
A.輻射功率
B.透過(guò)率
C.界面兩側(cè)的聲阻抗差異
D.界面兩側(cè)的聲速差異
最新試題
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來(lái)表征。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的()。
()是影響缺陷定量的因素。