A.19mm
B.25mm
C.30mm
D.40mm
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A.Φ5mm,2.5MHz
B.Φ6mm,5MHz
C.Φ5mm,5MHz
D.Φ8mm,2.5MHz
A.減少
B.保持不變
C.增大
D.隨波長均勻變化
A.近場區(qū)
B.遠(yuǎn)場區(qū)
C.超聲場
A.sinθ=直徑平方/4倍波長
B.sinθ×直徑=頻率×波長
C.sinθ=頻率×波長
D.sin(θ/2)=1.22波長/直徑
A.減少
B.保持不變
C.增大
D.隨波長均勻變化
最新試題
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
縱波直探頭徑向檢測實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
板波檢測可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量()。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯(cuò)誤的是()。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
儀器水平線性影響()。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。