A.6dB
B.9dB
C.10dB
D.3dB
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A.靈敏度試塊
B.對(duì)比試塊
C.標(biāo)準(zhǔn)試塊
D.自然缺陷試塊
A.前沿距離
B.Ｋ值
C.主聲束偏離、靈敏度余量和分辨率等
D.以上都是
A.每周
B.每個(gè)月
C.三個(gè)月
D.半年
A.100mm/s
B.150mm/s
C.200mm/s
D.50mm/s
A.5％
B.10%
C.15%
D.20%
最新試題
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。
底波計(jì)算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
檢測靈敏度太高和太低對(duì)檢測都不利。靈敏度太低，（）。
超聲檢測對(duì)缺陷定位時(shí)，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射，這種波是（）。
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小，操作方便，適用于（）的工件。