A.平面型缺陷
B.非平面型缺陷
C.以上A或B
D.以上都不是
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A.三級
B.四級
C.五級
D.以上都不是
A.JB/2Q6109-84
B.GB/T7233-87
C.JB4730-94
D.以上都是
A.缺陷回波幅度的等于或大于距離波幅曲線的位置
B.底面回?fù)芊冉档?2dB或12dB以上的位置
C.不論缺陷回波幅度的大小,凡出現(xiàn)線狀和片狀缺陷顯示的位置
D.以上都是
A.<15°
B.<20°
C.<25°
D.<30°
A.10%
B.15%
C.20%
D.以上都可以
最新試題
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
()是影響缺陷定量的因素。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
實(shí)際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測,儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。