A.校準(zhǔn)探頭頻率
B.提高探傷靈敏度
C.校驗(yàn)探測系統(tǒng)和作為質(zhì)量評判的參考
D.三種作用都有
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A.斷續(xù)分布的長條狀缺陷
B.熱處理參數(shù)不當(dāng)而產(chǎn)生的內(nèi)裂紋
C.殘余應(yīng)力
D.上述三種缺陷都有
A.端面垂直圓孔
B.徑向平底孔
C.裂紋
D.底面反射代替人工孔
A.可用鋼錠代替
B.采用無傷鈾鑄錠
C.鉛塊
D.都行
A.利于實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化探傷
B.易于實(shí)現(xiàn)聲束聚焦
C.聚焦后可提高探測靈敏度，減少雜法干擾
D.上述三種優(yōu)點(diǎn)都有
A.采用低頻直探頭，分層調(diào)整探傷靈敏度
B.轉(zhuǎn)換為橫波探傷
C.用水做耦合劑
D.不加耦合劑
最新試題
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對缺陷進(jìn)行（）。
（）可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
底波計(jì)算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低，（）。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說法錯(cuò)誤的是（）。
超聲檢測儀盲區(qū)是指（）。
（）可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。