A.光能
B.機械能
C.X—射線
D.電磁波
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你可能感興趣的試題
A.不必再用其他手段檢驗
B.再用目視檢查就可放行
C.再經(jīng)渦流檢驗就通過
D.必須按技術(shù)要求進行其他方法的檢驗
A.必須按質(zhì)保程序進行
B.可以不納入質(zhì)量保證系統(tǒng)
C.檢驗靈敏度越高越好
D.設(shè)備是合格品就行
A.探傷儀
B.探頭
C.記錄儀
D.上述三種部件
A.傳動裝置標(biāo)定
B.標(biāo)準(zhǔn)試樣板的標(biāo)定
C.探測系統(tǒng)綜合標(biāo)定
D.上述三種
A.板材平底孔
B.用其他試塊代替
C.模擬不結(jié)合層的標(biāo)準(zhǔn)缺陷
D.與成品元件比較
最新試題
用折射角β的斜探頭進行檢測，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
（）可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
底波計算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進行靈敏度校準(zhǔn)。
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
調(diào)節(jié)時基線時，應(yīng)使（）同時對準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
實際檢測中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。
利用底波計算法進行靈敏度校準(zhǔn)時，適用的工件厚度為（）。
移動探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動探頭，缺陷回波高度降低一半時，探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點，兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。
利用底波計算法校準(zhǔn)靈敏度時，下面敘述中（）是錯誤的。