A.能使被檢測(cè)對(duì)象（缺陷）能動(dòng)地參加到檢測(cè)過(guò)程之中
B.能立即知道缺陷的發(fā)生時(shí)間
C.發(fā)射頻率高
D.全具有
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A.光能
B.機(jī)械能
C.X—射線
D.電磁波
A.不必再用其他手段檢驗(yàn)
B.再用目視檢查就可放行
C.再經(jīng)渦流檢驗(yàn)就通過(guò)
D.必須按技術(shù)要求進(jìn)行其他方法的檢驗(yàn)
A.必須按質(zhì)保程序進(jìn)行
B.可以不納入質(zhì)量保證系統(tǒng)
C.檢驗(yàn)靈敏度越高越好
D.設(shè)備是合格品就行
A.探傷儀
B.探頭
C.記錄儀
D.上述三種部件
A.傳動(dòng)裝置標(biāo)定
B.標(biāo)準(zhǔn)試樣板的標(biāo)定
C.探測(cè)系統(tǒng)綜合標(biāo)定
D.上述三種
最新試題
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的（）。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí)，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）。
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小，操作方便，適用于（）的工件。
單探頭法容易檢出（）。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)（），其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn)，說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí)，適用的工件厚度為（）。