最新試題

金相也可通過掃描電子顯微鏡、透射電子顯微鏡直接獲得,他們主要是用來觀察材料的位錯,放大倍數(shù)一般為()倍。

題型:單項選擇題

使用雙探頭掃查時,如盲目改變掃查方向,將會導(dǎo)致()。

題型:單項選擇題

探傷工藝規(guī)程編制的內(nèi)容有很多,其中包括()。

題型:多項選擇題

核對軌頭剝離層下的傷損一般采用()。

題型:單項選擇題

垂直法局部掃查即探頭在整個面上按規(guī)定,并事先劃出的線上移動,相鄰掃查線的間距往往()探頭直徑。

題型:單項選擇題

探傷中采用軌頭側(cè)面校對法,它主要適用于()的校對。

題型:多項選擇題

在超聲波探傷中當(dāng)工件聲衰減很小、試件的厚度較大時,如果重復(fù)頻率過高,儀器可能會產(chǎn)生()

題型:單項選擇題

探頭移動過程中同時作()轉(zhuǎn)動,稱為擺動掃查。

題型:單項選擇題

采用兩個斜探頭(一收一發(fā))交叉()的掃查方式叫做交叉掃查。

題型:單項選擇題

由于各種試件的結(jié)構(gòu)、質(zhì)量要求不同,可能缺陷的()不一樣,因而探測面可能是試件的所有面,也可能是其中的幾個面,甚至只有一個可探測面。

題型:多項選擇題