單項(xiàng)選擇題以相同的探測(cè)靈敏度探測(cè)位于粗晶鑄件和經(jīng)過調(diào)質(zhì)鍛件中的缺陷，如兩者探測(cè)面狀態(tài)一樣，同處深度200mm處的缺陷回波高度也一樣，則兩者的缺陷：（）
A、當(dāng)量相同
B、鑄件中的大
C、鍛件中的大
D、上述都不對(duì)
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1.單項(xiàng)選擇題探測(cè)面光潔度分別△2和△1的兩個(gè)試塊中，具有直徑、取向、距離都相同的橫通孔，在以相同探傷靈敏度下將波束垂直射至孔面，則回波高度：（）
A、相同
B、△2的比△1的高
C、△1的比△2的高
D、上述都不是
2.單項(xiàng)選擇題在遠(yuǎn)場區(qū)用探測(cè)面為平面的對(duì)比試塊中的Φ2mm平底孔校準(zhǔn)的探傷靈敏度，去探測(cè)一個(gè)探測(cè)面為圓柱面的試件，發(fā)現(xiàn)一個(gè)深度和回波高度均與上述試塊平底回波相同的缺陷，則該缺陷的當(dāng)量：（）
A、等于Φ2mm平底孔
B、比Φ2mm平底孔大
C、比Φ2mm平底孔小
D、大于等于Φ2mm平底孔
3.單項(xiàng)選擇題用三個(gè)平底孔試塊制作距離──幅度校正曲線時(shí)，有時(shí)得到最靠近探頭的孔的回波高度低于其它一個(gè)或兩個(gè)孔回波，這可能是由于：（）
A、試塊探測(cè)面表面狀態(tài)不一致
B、近場中干涉的影響
C、孔的幾何形狀不準(zhǔn)確
D、全都可能
4.單項(xiàng)選擇題一個(gè)幾何形狀不是扁平的缺陷，其取向、距離和直徑均與扁平的缺陷相同，在相同探傷靈敏度下波束垂直射及時(shí)，前者的回波高度與后者的回波高度相比，通常是：（）
A、相同
B、增高
C、降低
D、延長
5.單項(xiàng)選擇題對(duì)一個(gè)缺陷回波用對(duì)比試塊中的平底孔作高度比較，其中一個(gè)試塊的深度與缺陷深度相同，直徑為4mm的平底孔回波高度等于缺陷回波，則缺陷當(dāng)量的大小相當(dāng)于：（）
A、2mm平底孔
B、4mm平底孔
C、3mm平底孔
D、5mm平底孔
最新試題
表面波的深度相當(dāng)于二個(gè)波長，所以只適用于對(duì)工件表面二個(gè)波長深度范圍內(nèi)缺陷的檢測(cè)。
題型：判斷題
板波法檢出靈敏度除取決于儀器工作條件外，還取決于波的形式。
題型：判斷題
在B型顯示中，無論不完整螺孔波圖是否出現(xiàn)，只要采用前后37度探頭回波組合顯示方式，即可判斷是傷波還是螺孔波。
題型：判斷題
后37度探頭A型顯示在熒光屏上先顯示裂紋回波后顯示螺孔回波。
題型：判斷題
37度探頭B型顯示第一孔朝軌端下斜裂紋的位置在軌縫線的另一側(cè)。
題型：判斷題
當(dāng)軌端頂面不平時(shí)，第一螺孔波多數(shù)不能正常顯示，一旦熒光屏在螺孔波刻度出現(xiàn)回波，一定就是第一螺孔朝第二螺孔上裂。
題型：判斷題
軌腰斜裂紋回波顯示離基線0刻度（A型顯示）越遠(yuǎn)或圖形顯示（B型顯示）越近，則裂紋距軌面越深。
題型：判斷題
由于固體具有體積彈性又有剪切彈性，所以橫波不能在固體中傳播。
題型：判斷題
軌腰縱向裂紋，由于軌腰寬度窄，等分波間隔大，在探測(cè)中應(yīng)注意分辨。
題型：判斷題
0度探頭發(fā)生失底波或減弱，應(yīng)適當(dāng)開大增益，若有底波顯示，可不判傷。
題型：判斷題