單項(xiàng)選擇題集成測(cè)試時(shí)，能較早發(fā)現(xiàn)高層模塊接口錯(cuò)誤的測(cè)試方法為（）

A.自頂向下漸增測(cè)試
B.自底向上漸增測(cè)試
C.非漸增式測(cè)試
D.系統(tǒng)測(cè)試


您可能感興趣的試卷

你可能感興趣的試題

1.單項(xiàng)選擇題下列技術(shù)中不屬于白盒測(cè)試的是（）

A.語(yǔ)句覆蓋
B.判定覆蓋
C.條件覆蓋
D.邊界值分析

2.單項(xiàng)選擇題集成測(cè)試主要是為了發(fā)現(xiàn)（）

A.需求分析的錯(cuò)誤
B.概要設(shè)計(jì)的錯(cuò)誤
C.詳細(xì)設(shè)計(jì)的錯(cuò)誤
D.編碼的錯(cuò)誤

3.單項(xiàng)選擇題黑盒測(cè)試中，著重檢查輸入條件的組合是（）

A.等價(jià)類(lèi)劃分法
B.邊界值分析法
C.錯(cuò)誤推測(cè)法
D.因果圖法

4.單項(xiàng)選擇題黑盒法設(shè)計(jì)測(cè)試用例的根據(jù)是程序的（）

A.應(yīng)用范圍
B.內(nèi)部邏輯
C.功能
D.輸入數(shù)據(jù)

5.單項(xiàng)選擇題白盒法設(shè)計(jì)測(cè)試用例的根據(jù)是程序的（）

A.應(yīng)用范圍
B.內(nèi)部邏輯
C.功能
D.輸入數(shù)據(jù)