A、5MHz10x2，焦距30mm雙晶直探頭
B、2.5MHzΦ14mm直探頭
C、2.5MHzΦ20mm直探頭
D、2.5MHz8x10mm，60°斜探頭
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A、探頭楔塊中的縱波聲速
B、管材中的縱，橫波聲速
C、管子的規(guī)格
D、以上全部
A、內(nèi)表面入射角等于折射角
B、內(nèi)表面入射角小于折射角
C、內(nèi)表面入射角大于折射角
D、以上都可能
A、縱波法
B、蘭姆波法
C、橫波法
D、爬波法
E、瑞利波法
F、變型波（縱-橫波）法
A、4，6，8，10
B、3，5，7，9
C、6，10
D、以上都不對
A、增大
B、減小
C、不變
D、按外或內(nèi)圓周面探測而增大或減小
最新試題
送檢產(chǎn)品工序狀態(tài)及表面質(zhì)量應(yīng)符合工藝規(guī)程或工藝處理意見的要求，經(jīng)表面檢驗合格，申請單無需檢驗蓋章確認(rèn)。
底片或電子圖片、X射線照相檢驗記錄、射線檢測報告副本、檢測報告等及臺帳由X光透視人員負(fù)責(zé)管理。
超差缺陷是否排除，由缺陷挖排人員挖排后直接提出申請、檢驗蓋章認(rèn)可后送X光檢測。
一次完整的補(bǔ)焊過程中缺陷是否排除X光透照確認(rèn)可以不限次數(shù)，直至缺陷完全排除。
下面列出的確定透照布置應(yīng)考慮的基本內(nèi)容中，錯誤的是（）。
對于直徑Φ50mm導(dǎo)管環(huán)焊縫，采用的透照方式為（）。
在射線照相檢驗中，隨著射線能量的提高，得到的圖像不清晰度也將增大。
增加工藝性透視有利于保證焊接質(zhì)量，因此盡可能增加工藝性透視次數(shù)。
像質(zhì)計放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同，相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時可適當(dāng)減少放置次數(shù)．但不少于透照次數(shù)的三分之一。
提出有效磁導(dǎo)率的是下列哪位科學(xué)家（）