A、切斷磁化電流后施加磁懸液的方法叫作剩磁法
B、高矯頑力材料制成的零件可以用剩磁法探傷
C、熒光磁粉與非熒光磁粉相比，一般說前者的磁懸液濃度要低
D、以上都對(duì)
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A、內(nèi)部缺陷處的漏磁通，比同樣大小的表面缺陷為大
B、缺陷的漏磁通通常同試件上的磁通密度成反比
C、表面缺陷的漏磁通密度，隨著離開表面距離的增加而急劇減弱
D、用有限線圈磁化長(zhǎng)的試件，不需進(jìn)行分段磁化
A．缺陷離試件表面越近，形成的漏磁通越小
B．在磁化狀態(tài)、缺陷類型和大小為一定時(shí)，其漏磁通密度受缺陷方向影響
C．交流磁化時(shí)，近表面缺陷的漏磁通比直流磁化時(shí)的漏磁通要小
D．在磁場(chǎng)強(qiáng)度、缺陷類型和大小為一定時(shí)，其漏磁通密度受磁化方向影響；
E．除A以外都對(duì)
A、與磁化電流的大小無關(guān)
B、與磁化電流的大小有關(guān)
C、當(dāng)缺陷方向與磁化場(chǎng)方向之間的夾角為零時(shí)，漏磁場(chǎng)最大
D、與工件的材料性質(zhì)無關(guān)
A．缺陷方向與磁力線平行時(shí)，漏磁場(chǎng)最大
B．漏磁場(chǎng)的大小與工件的磁化程度無關(guān)
C．漏磁場(chǎng)的大小與缺陷的深度和寬度的比值有關(guān)
D．工件表層下，缺陷所產(chǎn)生的漏磁場(chǎng)，隨缺陷的埋藏深度增加而增大
A、它與試件上的磁通密度有關(guān)
B、它與缺陷的高度有關(guān)
C、磁化方向與缺陷垂直時(shí)漏磁通最大
D、以上都對(duì)
最新試題
磁粉檢測(cè)—橡膠鑄型法是采用連續(xù)法檢測(cè)。
對(duì)于交流線圈，線圈中的工件將影響電流的調(diào)整。
一般說來，進(jìn)行了周向磁化工件的退磁，應(yīng)先進(jìn)行一次縱向磁化。
采用剩磁法時(shí)，磁懸液應(yīng)在通電結(jié)束后再施加，一般通電時(shí)間為2～3s。
C型靈敏度試片與A型靈敏度試片使用方法相同，只是C型靈敏度試片能用于狹小部位。
在不退磁的情況下，周向磁化產(chǎn)生的剩磁比縱向磁化產(chǎn)生的剩磁有更大的危害性。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：大型工件可使用交流電磁軛進(jìn)行局部退磁或采用纏繞電纜線圈分段退磁。
材料磁導(dǎo)率低（剩磁大）及直流磁化后，退磁磁場(chǎng)換向的次數(shù)（退磁頻率）應(yīng)較多，每次下降的磁場(chǎng)值應(yīng)較小，且每次停留的時(shí)間（周期）要略長(zhǎng)。
組合裝配件應(yīng)分解后再進(jìn)行磁粉檢測(cè)。
磁懸液應(yīng)采用軟管沖淋或浸漬法施加于工件表面。