A.改變滲透檢測(cè)劑類(lèi)型
B.更換操作規(guī)程
C.使用了新的對(duì)比試塊
D.使用新的滲透檢測(cè)劑
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.靈敏度等級(jí)分類(lèi)
B.質(zhì)量控制內(nèi)容
C.資料性引用文件
D.滲透基本程序
A.便于觀察缺陷顯示
B.提高觀察時(shí)的背景可見(jiàn)光照度
C.便于觀察顯示形成過(guò)程
D.防止過(guò)度去除，同時(shí)防止去除不足
A.工件被檢面處的觀察部位
B.容器內(nèi)腔空間處
C.被檢測(cè)工件所處的環(huán)境
D.整個(gè)被檢工件表面
A.溶劑懸浮式顯像
B.水溶解濕式顯像
C.干粉顯像方式
D.自顯像方式
A.長(zhǎng)度大于等于0.5mm的
B.長(zhǎng)度小于0.5mm的
C.寬度大于等于0.5mm的
D.寬度小于0.5mm的
最新試題
若工件材質(zhì)衰減不考慮，則聲程為150mm 直徑為1mm 的球孔與聲程為300mm，直徑為4mm 的球孔回波幅度相差（）。
如何進(jìn)行鑄件探傷的透聲性測(cè)試？
對(duì)奧氏體不銹鋼焊縫探傷，常用單晶縱波斜探頭探測(cè)深度較大的缺陷，用雙晶縱波斜探頭探測(cè)深度較淺的缺陷。
雙晶直探頭的探測(cè)區(qū)為表面下的菱形區(qū)，菱形區(qū)的中心離表面距離隨入射角增大而增大。
斜探頭作圓周方向探測(cè)時(shí)，為了實(shí)現(xiàn)良好的聲耦合，常將探頭修磨成與圓周曲率半徑相同的曲面，經(jīng)修磨后，斜探頭的K 值將變大。
數(shù)字化探傷儀中的“采樣率”相當(dāng)于模擬式探傷儀中的（）。
當(dāng)從母材側(cè)探測(cè)復(fù)合鋼時(shí)，熒光屏上只有始波和另一個(gè)回波，該回波的聲程與母材厚度相當(dāng)，則說(shuō)明該復(fù)合材料無(wú)脫接。
長(zhǎng)軸類(lèi)鋼鍛件從圓周面探測(cè)，常出現(xiàn)三角回波，利用三角回波出現(xiàn)的情況，可對(duì)軸類(lèi)鋼鍛件作出判斷，下面哪種說(shuō)法正確（）？
端點(diǎn)峰值法測(cè)得的缺陷指示長(zhǎng)度比端點(diǎn)6dB 法測(cè)得的指示長(zhǎng)度要小一些。
斜探頭探測(cè)焊縫時(shí)，在室內(nèi)溫度為18℃時(shí)，測(cè)定探頭K 值和調(diào)節(jié)掃描線比例，實(shí)際探測(cè)工件時(shí)的環(huán)境溫度為35℃，則檢測(cè)顯示的回波深度值為（）。