A.目視法
B.射線法
C.磁粉法
D.渦流法
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你可能感興趣的試題
A.可在光線較暗的環(huán)境下觀察缺陷
B.被探測零件表面不會被腐蝕
C.對零件和環(huán)境的污染小
D.較易檢出微小的缺陷
A.沖洗不夠
B.后乳化法時(shí)乳化時(shí)間不足
C.多孔性材料和涂層
D.以上都可能
A.預(yù)清洗
B.乳化
C.對顯示跡痕的判斷與解釋
D.滲透劑的清除
A.對于微細(xì)裂紋的顯示,厚的顯示劑涂層比薄的涂層更為清晰
B.黑色顯示劑的反差比白色顯示劑好
C.應(yīng)使用壓縮空氣清除多余的顯示劑
D.對于微細(xì)裂紋的顯示,薄的顯示劑涂層比的厚涂層更為清晰
A.測定滲透劑的粘度
B.測量滲透劑的潤濕能力
C.在具有人工裂紋的A型鋁合金試塊或B型鍍鉻試塊上通過對比試驗(yàn)確定
D.上述方法都需要
最新試題
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
縱波直探頭徑向檢測實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
()可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
板波檢測可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。
()可以對管路、管道進(jìn)行長距離檢測。
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
儀器水平線性影響()。
()是影響缺陷定量的因素。