A、光纖內(nèi)窺鏡
B、電子內(nèi)窺鏡
C、工業(yè)檢測(cè)閉路電視
D、以上都是
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A、對(duì)比度
B、清晰度
C、靈敏度
D、以上都對(duì)
A.0.8%
B.1.6%
C.2.4%
D.3.2%
A.源的強(qiáng)度
B.源的物理尺寸
C.源的種類
D.源的活度
A.橫軸為管電壓,縱軸為時(shí)間,以曝光量為參數(shù)
B.橫軸為管電流,縱軸為管電壓,以曝光時(shí)間為參數(shù)
C.a和b都是
D.a和b都不是
A.37年
B.5.6年
C.75天
D.以上都不對(duì)
最新試題
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的()。
儀器水平線性影響()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
()是影響缺陷定量的因素。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量()。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。