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填空題JB/T4730標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，磁痕顯示分為相關(guān)顯示、非相關(guān)顯示和（）。

1.填空題JB/T4730標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，缺陷磁痕的顯示記錄可采用（）、錄像和可剝性塑料薄膜等方式記錄。

2.填空題工件磁化通電方式可分為（）和剩磁法。

3.填空題磁粉探傷不能檢測奧氏體不銹鋼材料，也不能檢測銅、鋁等（）。

4.填空題JB/T4730標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，關(guān)于磁粉檢測在圓形缺陷評定區(qū)內(nèi)同時(shí)存在多種缺陷時(shí)，應(yīng)進(jìn)行（）評級。

5.填空題磁粉探傷是利用缺陷處漏磁場與磁粉相互作用的原理，檢測鐵磁性材料（）缺陷的一種無損檢測方法。