單項(xiàng)選擇題下列壓電晶體中哪一種做高頻探頭較為適宜()
A.鈦酸鋇(CL=5470m/s)
B.鈦酸鋰(CL=7400m/s)
C.PZT(CL=4400m/s)
D.鈦酸鉛(CL=4200m/s)
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1.單項(xiàng)選擇題下面哪種壓電材料最適宜制作高分辨率探頭:()
A.石英
B.鋯鈦酸鉛
C.偏鈮酸鉛
D.鈦酸鋇
2.單項(xiàng)選擇題下面哪種材料最適宜做高溫探頭:()
A.石英
B.硫酸鋰
C.鋯鈦酸鉛
D.鈮酸鋰
3.單項(xiàng)選擇題聯(lián)合雙直探頭的最主要用途是:()
A.探測近表面缺陷
B.精確測定缺陷長度
C.精確測定缺陷高度
D.用于表面缺陷探傷
4.單項(xiàng)選擇題目前工業(yè)超聲波探傷使用較多的壓電材料是:()
A.石英
B.鈦酸鋇
C.鋯鈦酸鉛
D.硫酸鋰
5.單項(xiàng)選擇題在毛面或曲面工件上作直探頭探傷時(shí),應(yīng)使用:()
A.硬保護(hù)膜直探頭
B.軟保護(hù)膜直探頭
C.大尺寸直探頭
D.高頻直探頭
最新試題
()是影響缺陷定量的因素。
題型:單項(xiàng)選擇題
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測,儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
題型:單項(xiàng)選擇題
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
題型:單項(xiàng)選擇題
探頭延檢測面水平移動(dòng),超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。
題型:單項(xiàng)選擇題
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
題型:單項(xiàng)選擇題
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
題型:單項(xiàng)選擇題
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
題型:單項(xiàng)選擇題
在對缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
題型:單項(xiàng)選擇題
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
題型:單項(xiàng)選擇題
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯(cuò)誤的是()。
題型:單項(xiàng)選擇題