單項(xiàng)選擇題采用聲透鏡方式制作聚焦探頭時(shí)，設(shè)透鏡材料為介質(zhì)1，欲使聲束在介質(zhì)2中聚焦，選用平凹透鏡的條件是（）

A、Z1＞Z2
B、C1＜C2
C、C1＞C2
D、Z1＜Z2


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1.單項(xiàng)選擇題以下關(guān)于爬波探頭的敘述，哪一條是錯(cuò)誤的（）

A.爬波探頭的外形和結(jié)構(gòu)與橫波斜探頭類似
B.當(dāng)縱波入射角大于或等于第二臨界角時(shí)，在第二介質(zhì)中產(chǎn)生爬波
C.爬波用于探測(cè)表層缺陷
D.爬波探測(cè)的深度范圍與頻率f和晶片直徑D有關(guān)

2.單項(xiàng)選擇題下列壓電晶體中哪一種做高頻探頭較為適宜（）

A.鈦酸鋇（CL=5470m/s）
B.鈦酸鋰（CL=7400m/s）
C.PZT（CL=4400m/s）
D.鈦酸鉛（CL=4200m/s）

3.單項(xiàng)選擇題下面哪種壓電材料最適宜制作高分辨率探頭：（）

A.石英
B.鋯鈦酸鉛
C.偏鈮酸鉛
D.鈦酸鋇

4.單項(xiàng)選擇題下面哪種材料最適宜做高溫探頭：（）

A.石英
B.硫酸鋰
C.鋯鈦酸鉛
D.鈮酸鋰

5.單項(xiàng)選擇題聯(lián)合雙直探頭的最主要用途是：（）

A.探測(cè)近表面缺陷
B.精確測(cè)定缺陷長度
C.精確測(cè)定缺陷高度
D.用于表面缺陷探傷

最新試題

測(cè)長法是根據(jù)測(cè)長缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長度稱為缺陷的（）。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小，操作方便，適用于（）的工件。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí)，適用的工件厚度為（）。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測(cè)長方法稱為（）。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

底波計(jì)算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng)，超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為（）。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低，（）。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題