單項(xiàng)選擇題從A型顯示熒光屏上不能直接獲得缺陷性質(zhì)信息、超聲探傷對缺陷的定性是通過下列方法進(jìn)行:()
A.精確對缺陷定位
B.精確測定缺陷形狀
C.測定缺陷的動態(tài)波形
D.以上方法須同時(shí)使用
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1.單項(xiàng)選擇題棱邊再生波主要用于測定:()
A.缺陷的長度
B.缺陷的性質(zhì)
C.缺陷的位置
D.缺陷的高度
2.單項(xiàng)選擇題在用5MHZΦ10晶片的直探頭作水浸探傷時(shí),所測結(jié)果:()
A.小于實(shí)際尺寸
B.接近聲束寬度
C.大于實(shí)際尺寸
D.等于晶片尺寸
3.單項(xiàng)選擇題采用底波高度法(F/B百分比法)對缺陷定量時(shí),以下哪種說法正確()
A.F/B相同,缺陷當(dāng)量相同
B.該法不能給出缺陷的當(dāng)量尺寸
C.適于對尺寸較小的缺陷定量
D.適于對密集性缺陷的定量
4.單項(xiàng)選擇題探頭沿圓柱曲面外壁作周向探測時(shí),如儀器用平試塊按深度1:1調(diào)掃描,下面哪種說法正確()
A.缺陷實(shí)際徑向深度總是小于顯示值
B.顯示的水平距離總是大于實(shí)際弧長
C.顯示值與實(shí)際值之差,隨顯示值的增加而減小
D.以上都正確
5.單項(xiàng)選擇題表面波探傷時(shí),儀器熒光屏屏上出現(xiàn)缺陷波的水平刻度值通常代表()
A.缺陷深度
B.缺陷至探頭前沿距離
C.缺陷聲程
D.以上都可以
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測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
題型:單項(xiàng)選擇題
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
題型:單項(xiàng)選擇題
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯誤的是()。
題型:單項(xiàng)選擇題
探頭延檢測面水平移動,超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個相鄰缺陷的能量稱為()。
題型:單項(xiàng)選擇題
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說法錯誤的是()。
題型:單項(xiàng)選擇題
()可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
題型:單項(xiàng)選擇題
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯誤的。
題型:單項(xiàng)選擇題
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
題型:單項(xiàng)選擇題
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
題型:單項(xiàng)選擇題
()可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
題型:單項(xiàng)選擇題