A.刻度5處
B.越出熒光屏外
C.仍在刻度10處
D.須視具體情況而定
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A.36.5db
B.43.5db
C.50db
D.28.5db
A.沒有特定的方式
B.采用底波方式
C.采用試塊方式
D.采用底波方式和試塊方式
A.與液體中相同的聲束傳播
B.不受零件幾何形狀的影響
C.凹圓弧面聲波將收斂,凸圓弧面聲波將發(fā)散
D.與C的情況相反
A.與主軸線平行
B.與鍛造方向一致
C.與鍛件金屬流線一致
D.與鍛件金屬流線垂直
A.直探頭端面和外圓面探傷
B.直探頭外圓面軸向探傷
C.斜探頭外圓面軸向探傷
D.以上都是
最新試題
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量()。
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
單探頭法容易檢出()。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為()。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。